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Interflex Co., Ltd
No | 分类 | 设备名称 | 设备图片 | 用途 | 特性 |
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1 | 形状测量装置 | 非接触三维表面形状测量装置 (Contour and Form Measuring System) | ![]() |
观察取样表面突出和下陷部分,通过三维立体形状分析塔轮现象 以非接触方式 | 均可测量0.1mm到270㎛三维表面形状的固定度和高速 |
2 | 成分分析 | FT-IR MICROSCOPE | ![]() |
分析成品及原辅材料成分,分析表面特点、分析结合结构 | 利于使用在紫外线吸光率很低的取样 |
3 | 高倍率观察 & 成分分析装备 | SEM-EDX (Scanning Electron Microscope & Energy Dispersive X-Ray Micro Analyzer) | ![]() |
通过观察和定性产品表面的照度、及定量分析,做取样成分分析 | 从低Kv排放高电流、提供7nm SE模式的3kV图片清晰度及5kV的10nm BSE模式图片清晰度 |
4 | Bending Test | Bending Test | ![]() |
通过FPCB Cable产品的弯曲试验,测量阻力的变化率 | 根据客户公司要求而制的装备,测量Cable产品优化弯曲性试验的装备 |
5 | 压缩应力 | ACF (Anisotropic Conductive Film) / FOG Bonder | ![]() |
异方性导电膜(ACF)附着在玻璃和取样之间,并用于压缩评估 | Glass Stage上安装Guide,从而可以共用于多种基板。 |
6 | 环境试验装备 | Thermal Shock Tester | ![]() |
液状(OIL)中将镀金取样经过加热急冷的热冲击后,评估镀金的粘滞性 | 高热和冷热的浴缸单独方式,可以缩短温度的移动时间及体现低温-70℃~常温200℃的各种测试 |
7 | 环境试验装备 | Thermal Shock Tester | ![]() |
气体状态中将镀金取样经过加热急冷的热冲击后,评估镀金的粘滞性 | 转换热风和冷风后迅速恢复温度能力:5分钟以内,控制精密温度:控制性±0.2℃,分布图±2.0℃以内 |
8 | 环境试验装备 | Hot Oil Chamber Machine System | ![]() |
液状(OIL)中评估层压PCB产品的耐热性结合力测试 | 利用耐受常温(MAX) 250℃的液体OIL,均可体现各种测试 |
9 | Bending Test | Folding Endurance Tester | ![]() |
电路板材料上加温和加载重后评估材料的物性 | 为满足苛刻的试验条件,另装温度控制系统(-40℃~150℃均可使用) |
10 | Bending Test | FPC Flexural Endurance Tester | ![]() |
根据电路板材料的机械疲劳,评估判断热化程度的加速寿命 | 体现上下垂直移动(每分钟600~3,000RPM),另装温度控制系统(-40℃~150℃均可使用) |
11 | 环境试验装备 | Low Temperature Tester | ![]() |
评估PCB产品保管和运输中可能会发生低温状态产品的环境 | 根据最低接触高效蒸发器,安装室内迅速冷却功能及耐久性优秀的封闭型压缩机 |
12 | 环境试验装备 | Press Cooker Tester | ![]() |
以高温和高压长时间搁置PCB产品,由此评估根据吸收水分和渗透的产品特点 | 安装允许一定电压或信号,并以偏压测试为中心的功能 |
13 | 环境试验装备 | Ion Migration Tester | ![]() |
评估高温和高湿状态中PCB产品的各Pattern之间绝缘性变化 | 同时可以试验离子流动监测、绝缘电阻测定、绝缘特点3项评估的装备 |
14 | 通信特点评估装备 | Impedance 测定仪 | ![]() |
评估根据Coupon设计的阻抗变化率 | 最高水平的未满450fs RMS基本抖颤、TDR带宽、S-参数测定功能 |
15 | 评估弹回特点装备 | 评估弹回特点装备 (SPRING BACK & STATIC BENDING TESTER) | ![]() |
产品弯曲后要恢复原状的弹力作用,评估弯曲量减少的现象 | 最多调节180˚角度方式及均可调节5~30cpm速度 |
16 | 表面能源测定装备 | Contact Angle Analyzer | ![]() |
可以测定PCB产品表面固着的水滴,以及测定其粘贴面能源值 | 根据手动、半自动、自动3阶段设定及注射器的动作,正确的每0.1㎕动作控制使用体积化 |
17 | Wire bonding | Bond Tester | ![]() |
为了测试半导体元件的可靠性,以破坏或非破坏形态评估接合抗张力 | 安装退步设定及助于控制的防逆转系统,设定和保持连1㎛正确度的剪断高度 |
18 | Wire bonding | Wire Bonder | ![]() |
PCB产品的PAD面上Au Wire Bonding后评估抗张力 | Au Wire长度和循环功能可以按各阶段调节,以及均可测定手动和自动模式 |
19 | 环境试验装备 | Temperature & Humidity Test Chamber) | ![]() |
保持一定范围内的温度和湿度并评估产品的耐湿性 | 根据用户所需,装备的更新功能及电瓶过滤器均可在室左侧简单拆卸,因而易于洗涤 |
20 | 非破坏透过检查装备 | CT X-RAY | ![]() |
在非破坏状态及不破坏PCB产品下,透过X光检查电路的Crack及Open有无 |